面向AI时代的SSD存储方案，大普微J5000荣获ODCC 2024“闪耀之选”
2024-09-192
近期，ODCC 2024开放数据中心大会于北京成功举办。作为企业级存储领域的积极推动者，大普微受邀出席本次业界盛事，携最新产品技术发表主题演讲，共同探讨数据中心最新动态和发展方向。同时，凭借出色的产品性能与市场表现，大普微荣获ODCC“优秀合作伙伴”奖，最新QLC SSD J5000获评ODCC 2024“闪耀之选”。
在人工智能飞速发展的背景下，AI工作负载的高强度和大批量读写操作，对SSD的存储容量、速度和能效等方面提出了新的诉求。在今日的新技术与测试分论坛上，大普微解决方案架构师李根发表《面向AI工作负载和写放大挑战的闪存技术创新》主题演讲，分享大普微针对AI市场存储需求的新一代SSD产品。大普微QLC SSD J5000产品能够完美平衡存储容量和性能需求，是AI领域的首选存储方案。QLC SSD的大容量与高性能优势使其在高强度的AI训练任务中表现尤为出色，承载AI全生命周期的数据。演讲中指出：通过在读密集场景采用QLC SSD替代TLC SSD，可以降低单盘成本并提高服务器单节点存储密度，使系统中每GB的存储成本更低。而通过用QLC SSD替代传统HDD，提高存储效率的同时大幅减少了硬盘和服务器的数量，进而降低了功耗和运维成本，实现5年总拥有成本（TCO）节省45%的显著效果。AI训练任务对存储接口速率要求极高，这是由于数据加载的速度将影响GPU资源利用率和训练速度，并且GPU主导的存储访问方式会产生更密集的IO请求。因此，AI模型训练更加凸显了高效、高速存储解决方案的重要性。李根在演讲中通过案例向现场观众分析，PCIe5.0高速存储接口能够有效提升GPU利用率并降低成本。在闪存技术发展历程中，减少写放大效应是各SSD厂商的重要目标之一。在应对写放大问题，大普微采用的前瞻性技术路线，持续突破 FDP和ZNS等技术，使得写放大表现接近1的理想状态。大普微的PCIe 5.0 R6和H5系列SSD产品全面支持 FDP技术，大幅度降低了写放大效应，提高了SSD的性能和寿命。此外，大普微牵头发起ODCC ZNS测试白皮书项目，联合多家厂商共同完成编写工作。该白皮书提供了ZNS测试方法和评估标准，帮助用户可以更好地理解和应用ZNS技术，为未来的存储系统架构提供了更多的选择。声明：文章内容来源于DapuStor，仅作分享如有侵权请联系小编删除，谢谢！
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